在非金屬礦物和粉體材料加工、產(chǎn)品銷(xiāo)售及下游應用過(guò)程中，其性能檢測是必不可少的環(huán)節，如采用激光粒度分析儀可檢測粉體產(chǎn)品粒度分布情況，采用掃描電子顯微鏡（SEM）觀(guān)察碳酸鈣晶體形貌等。因此，小編特意整理了常見(jiàn)粉體材料測試項目、設備型號及可測性能。
粒度分布
| 激光粒度分析儀 |
丹東百特Bettersize3000plus |
0.01-3500微米粒度分布 |
| 納米粒度及Zeta分析儀 |
NanoZS+MPT2 |
納米粒度分布測定 |
| Zeta電位 |
原子力顯微鏡（AFM）
| 原子力顯微鏡 |
Brukerdimensionicon |
基本形貌、3D效果顯示 |
| 電學(xué)磁學(xué)力學(xué) |
| 熱學(xué) |
| 粗糙度分析 |
透射電子顯微鏡（TEM）
| 透射電子顯微鏡 |
JEM2100F
FEITecnaiG2F30
TecnaiG2Spirit120KV
TitanCubedThemisG2300
Titan80-300
JEM-2010F
EITecnaiG220 |
TEM形貌觀(guān)察 |
| HRTEM高分辨像 |
| EDS能譜元素定性定量分析 |
| STEM掃描透射電子顯微圖像 |
| EELS能量損失譜 |
| SAED選區電子衍射 |
| S/TEM、EDS三維重構 |
| 微分相位襯度STEM技術(shù)測量固有磁場(chǎng)和電場(chǎng) |
| 全息技術(shù) |
| 缺陷分析 |
| 結構測定 |
| 洛倫茲透鏡 |
掃描電子顯微鏡-SEM
| 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 |
ZeissMerlin
HitachiSU8010
HitachiS-3400N
日立S-5500
JSM-6301F
JSM7600F |
SEM形貌觀(guān)察 |
| EDS點(diǎn)/線(xiàn)掃 |
| EDS面掃 |
| EDS形態(tài)學(xué)分析 |
| EDS顆粒分析 |
| EBSD振動(dòng)拋光 |
| EBSD測試 |
| 透射像（明場(chǎng)和暗場(chǎng)） |
掃描隧道顯微鏡-STM
| 掃描隧道顯微鏡 |
Low-TemperatureUHV-STMSystem |
原子級別高分辨表面形貌分析 |
| 表面電子結構表征 |
電鏡制樣
| 聚焦離子束（雙束） |
AurigaFIB |
形貌觀(guān)察 |
| 元素定性定量分析 |
| 晶體取向分析 |
| 原子序數襯度像 |
| 離子束加工與沉積 |
| 納米手操控（Omniprobe200） |
| 3D成像（圖像、成分、晶體取向） |
| 離子束鍍膜與刻蝕系統 |
Gatan682 |
碳膜（或鉻、金、鉑等） |
| 離子減薄儀 |
RES101 |
透射/掃描電鏡樣品的減薄，清洗和原位噴鍍 |
| 離子減薄儀 |
PIPSⅡ695 |
透射電鏡樣品的減薄，清洗 |
X射線(xiàn)衍射儀
最低12K，最高1600℃變溫測試，廣角、小角、掠入射、步進(jìn)、慢掃、原位、織構等。
| 原位變溫X射線(xiàn)粉末衍射儀 |
日本理學(xué)D/max2550
XRD-7000型
布魯克D8Advance
PhilipsPW3040/60型
帕納科XPertProMRD高分辯衍射儀 |
低溫XRD（12K） |
| 高溫XRD（1600℃） |
| 小角散射 |
| 小角衍射 |
| 廣角 |
| 掠入射 |
| 慢掃 |
| 常規廣角 |
| 精修計算服務(wù) |
物理吸附
| 比表面積和孔徑分析儀 |
麥克ASAP2020 |
BET |
| 微孔分布 |
| 介孔分布 |
化學(xué)吸附
| 全自動(dòng)化學(xué)吸附儀 |
麥克AutoChem1II2920 |
程序升溫還原（TPR） |
| 程序升溫脫附（TPD） |
| 程序升溫氧化（TPO） |
| 程序升溫反應評價(jià) |
TG、DSC
熱重、熱焓、比熱等測試，可測-180℃到1600℃范圍內各項數據
| DSC |
Netzsch，STA449F3
MettlerDSC3
Netzsch，DSC204F1
Netzsch/BrukerTG209F3/Tensor27
TAQ600
Netzsch，404F3 |
常規DSC測試 |
| TG |
TG-DSC測試 |
| TG-DSC |
氧化誘導期 |
| TG-IR |
比熱 |
導熱
測熱導率最低溫度可測到4.2K，最高測到1100℃，100℃以下可直接測出，100℃以上需要通過(guò)測熱擴散系數和比熱后計算。
| 激光導熱儀（LFA457） |
LFA457
LFA447
NETZSCH，LFA-457 |
熱擴散系數 |
| 激光導熱儀（LFA447） |
| 激光熱導儀 |
熱擴散系數 |
| 導熱測試儀 |
導熱系數 |
| 比熱測試儀 |
室溫-4.2K |
動(dòng)態(tài)熱機械分析-DMA
| 動(dòng)態(tài)熱機械分析儀 |
（Netzsch）DMA242E |
室溫～600℃ |
傅里葉紅外
可測普通紅外、ATR紅外、原位紅外和吡啶紅外等，在室溫到900℃溫區內提供多種氣氛。
| 傅立葉變換紅外光譜儀（帶原位反應池） |
Nicoletis50
ThermofisherNicolet6700
BrukerTensor27 |
衰減全反射ATR
透射紅外KBr壓片
透射紅外無(wú)需KBr壓片
漫反射
原位紅外
吡啶紅外 |
X射線(xiàn)光電子能譜儀XPS
| X射線(xiàn)光電子能譜儀 |
PHI5000VersaprobeII
KratosAxisUltraDLD
ThermoScientificESCALAB250Xi |
常規寬譜掃描 |
| 窄譜掃描 |
| 紫外光電子能譜（UPS） |
| 選區成像mapping |
| Ar離子刻蝕（不含采譜） |
| Ar團簇離子深度剖析（采譜另計） |
| Al/Mg雙陽(yáng)極 |
| 原位高低溫（153~773K） |
| 準原位高低溫（123~1073K） |
| 角分辨XPS |
| AES（俄歇能譜） |
| REELS、ISS |
元素分析
可以分析各種無(wú)機樣品、有機樣品、金屬樣品元素含量，分析92號以前的全部元素。
| CHNSO有機元素分析儀 |
Varioelcube |
CHNS元素
O元素 |
| 德國Elementar公司VarioELⅢ |
| 電感耦合等離子原子發(fā)射光譜儀 |
ThermoiCAP-6000
OPTIMA8000DV |
元素含量
全元素定量（同時(shí)測定55種元素） |
| X射線(xiàn)熒光光譜儀（XRF） |
島津XRF-1800型波長(cháng)色散熒光光譜儀 |
定性 |
| 定量 |
| 全元素定量 |
| 紅外碳硫儀 |
力可CS344 |
C、S含量 |
| 紅外氮氧儀 |
力可TC400 |
N、O含量 |
原位拉曼光譜
測溫范圍：80-473K，325514532633780nm波長(cháng)都有。
拉曼光譜儀
共焦顯微拉曼光譜儀 |
LabRAMHR800
雷尼紹RiVia |
普通掃譜（325nm）
普通掃譜（532nm、785nm、633nm）
高低溫測試(LINKAM)
原位拉曼光譜測試（mapping+電化學(xué)工作站）
大光斑掃描（DUOSCAN）
變溫測試（80-473K） |
| 紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計 |
Cary5000
島津UV360 |
紫外可見(jiàn)近紅外光譜
液體樣品紫外吸收測試
固體樣品透過(guò)率
反射率測試 |
極低溫力學(xué)性能
可測材料在液氦、液氮以及常溫下的力學(xué)性能。
電子萬(wàn)能材料試驗機
（多臺、載荷等參數不同） |
拉伸強度 |
室溫 |
| 液氮 |
| 20K |
| 4.2K |
| 彎曲強度 |
室溫 |
| 液氮 |
| 20K |
| 4.2K |
| 斷裂韌性 |
室溫 |
| 液氮 |
| 液氦 |
| 壓縮強度 |
室溫 |
| 液氮 |
| 20K |
| 4.2K |
| 沖擊韌性 |
室溫 |
| 液氮 |
| 20K |
| 4.2K |
| 剪切強度 |
室溫 |
| 液氮 |
| 20K |
| 4.2K |
| 微機控萬(wàn)能試驗機 |
CMT6104 |
三角彎曲變形、薄膜拉伸、拉伸強度 |
|
| 全自動(dòng)電子萬(wàn)能材料試驗機 |
ZwickZ100
ZwickZ050 |
拉伸 |
常溫 |
| 100-400℃ |
| 沖擊試驗機 |
三思縱橫300J
MTS-SANS
ZBC-300A
PMT-1200 |
沖擊韌性 |
室溫 |
| 室溫 |
| 液氮 |
| 20K |
| 4.2K |
| 疲勞試驗機 |
PLS100
Instron8802 |
疲勞 |
室溫 |
| 液氦 |
| 液氮 |
硬度
| 數顯布洛維硬度計 |
SHBRV-187.5 |
硬度測試 |
| 顯微維式硬度計 |
EM-1500L |
維式硬度測試 |
| 布氏硬度計 |
MHB-3000 |
硬度 |
| 洛氏硬度計 |
HRS-150 |
| 維氏硬度計 |
HVS-30P |
線(xiàn)膨脹測試（超大溫度范圍）
最低溫度可達4.2K，最高溫度能到2800℃。
| 線(xiàn)膨脹測試儀 |
德國Linseis，L75
耐馳DIL402C |
線(xiàn)膨脹系數 |
電池測試設備
| 研究型接觸角測量?jì)x |
DSA30 |
接觸角 |
| 表面張力測試儀 |
|
表面張力 |
| 水分測定儀 |
831KF |
固體水分測定 |
| 液體水分測定 |
| 全自動(dòng)真密度分析儀 |
AccuPycII1340 |
真密度 |
| 全自動(dòng)振實(shí)密度分析儀 |
GeoPyc1360 |
振實(shí)密度 |
| 手套箱 |
M.BRUN雙工位 |
手套箱機時(shí) |
| 電化學(xué)工作站（VMP3） |
VMP3 |
EIS |
| CV、充放電等 |
| 電化學(xué)工作站（Solartron） |
Solartron1470E |
EIS |
| CV、充放電等 |
| 藍電測試儀 |
CT2001A |
恒流/恒壓充放電 |
動(dòng)力電池
測試儀 |
S4000 |
電性能測試≤15A量程 |
| 電性能測試100A量程 |
| 電性能測試200A量程 |
| 電性能測試400A量程 |
| 電性能測試800A量程 |
| 振動(dòng)試驗機 |
DC-300 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 機械沖擊試驗機 |
CL-50 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池高溫隔爆試驗機 |
DMS-9987 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 溫控型電池短路試驗機 |
DMS-WDL |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池低氣壓模擬試驗機 |
DMS-9988 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池自由跌落試驗機 |
DMS-9985 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池擠壓試驗機 |
DMS-9981 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池重物沖擊試驗機 |
DMS-Z9983 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池燃燒拋射試驗機 |
DMS-9986 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池洗滌試驗機 |
DMS-XD |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 電池針刺試驗機 |
DMS-9982 |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
| 靜電放電模擬器 |
ESS-B3011/GT-30R |
≤5Ah |
| 5-10（包含）Ah |
| 10-20（包含）Ah |
熱電
| 熱電測試系統 |
Linseis，LSR-3 |
電阻率Seebeck系數 |
綜合物性測量系統
磁場(chǎng)可到14T，溫度最低可達50mK。
| PPMS |
QuantumDesign， |
材料物性測試 |
色譜
| 凝膠滲透色譜儀 |
WatersE2695 |
四氫呋喃測試溫度：30°C |
| 高溫凝膠滲透色譜儀 |
PL-GPC220 |
三氯苯測試溫度：150°C |
| 圓偏振熒光光譜儀 |
JASCOCPL-300 |
CPL |
| 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀（GCMS） |
Trace1300ISQ |
氣相色譜質(zhì)譜 |
其他
| 壓汞儀 |
麥克AutoPoreIV9500 |
固體 |
| 粉末 |
| 橢偏儀 |
美國J.A.Woollam公司VB-400 |
薄膜厚度 |
| 折射率 |
| 消光系數測試 |
資料來(lái)源：材料牛
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