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        【干貨】TEM、HRTEM、STEM——常用三大透射電子顯微鏡,你能分清嗎?
        來(lái)源:研之成理    更新時(shí)間:2016-06-27 10:31:12    瀏覽次數:
         
             幾何任何與材料相關(guān)的領(lǐng)域都要用到透射電鏡,而最常用的三大透射電鏡是:普通透射電子顯微鏡(TEM)、高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)和掃描透射電子顯微鏡(STEM)。本期內容介紹三者的殊與同。重點(diǎn)解析在科研中如何適時(shí)的運用這三者?

            TEM這里的TEM專(zhuān)指普通分辨率TEM。其主要用來(lái)觀(guān)察材料的微觀(guān)形貌和結構,比如催化劑粉末的輪廓外形,納米粒子的尺寸和形貌。一般普通TEM的分辨率在幾個(gè)納米數量級。下圖1(多相粉末催化劑)、圖2(納米晶)為典型普通TEM圖形。


        圖1 

        圖2  

             電子與樣品相互作用后,透射電子主要分為三大類(lèi):透射電子,彈性散射電子和非彈性散射電子。這三類(lèi)電子各司其職,其中透射電子和彈性散射電子均可用于成像。通過(guò)調節電鏡參數可以選擇性收集成像電子,如圖3所示。

               圖3 如果只選擇透射電子成像,那么可想而知,沒(méi)有樣品的地方,電子透過(guò)的最多,所以觀(guān)察屏上最亮,樣品越重越厚的地方、電子難以透過(guò)就越暗。這就是所謂的“明場(chǎng)像”,光路圖如圖3a所示。這種由于樣品厚薄不均,質(zhì)量不同而導致的明暗差異被稱(chēng)為“質(zhì)厚襯度”,原理于圖4所示。在明場(chǎng)模式下,整個(gè)視野內比較明亮,比較利于觀(guān)察樣品的大小、尺寸、形貌等信息,圖1,2都為明場(chǎng)像。

            既然有“明場(chǎng)像”,必然就有“暗場(chǎng)像”。所謂“暗場(chǎng)像”是指“收集”散射(衍射)電子成像。因為質(zhì)量越大、越厚,其散射越強,所以在暗場(chǎng)下其越亮。在沒(méi)有樣品處,因為電子散射很少所以越暗,光路圖見(jiàn)如圖3b。雖然暗場(chǎng)模式下整個(gè)大視野范圍內比較暗,但是樣品處較亮。特別是滿(mǎn)足布拉格衍射的區域會(huì )特別亮。這種因為衍射強度不同,而導致的明暗不同稱(chēng)為“衍射襯度”。這一暗場(chǎng)下的衍射襯度可以用來(lái)分辨樣品中不同區域的晶粒。例如:厚薄均勻的樣品,在明場(chǎng)像中A、B區域沒(méi)什么差別。但是在暗場(chǎng)像中A區域滿(mǎn)足布拉格方程,那么A區域明亮可見(jiàn);而B區域不滿(mǎn)足布拉格方程就暗,從而予以鑒別,如圖5所示。PS:明場(chǎng)、暗場(chǎng)并非普通電鏡的專(zhuān)利、STEM中也有明暗場(chǎng)之分。

            HRTEM:從字面意義上很好理解,高分辨電子顯微鏡,顧名思義就是比普通電鏡的分辨率更高一些。確實(shí),普通的TEM只能用來(lái)看看外觀(guān),很難看到內部結構,如:晶面間距、原子排布等信息。近年來(lái)HRTEM發(fā)展迅猛,分別率已經(jīng)達到原子級別(幾埃,甚至零點(diǎn)幾埃)。理論上能夠看清一個(gè)一個(gè)的原子。所以HRTEM用來(lái)觀(guān)測晶體內部結構、原子排布以及很多精細結構(比如位錯、孿晶等)。但理論與實(shí)際總是有差距。想要從HRTEM中得到準確的材料結構信息并非易事。首先必須保證樣品足夠?。ㄈ跸辔唤疲┖?/span>Scheerzer欠焦條件下拍攝的HRTEM像才能正確反應晶體結構,如圖6。很多時(shí)候還需要利用軟件模擬構型,然后再與實(shí)際照片比對。

            至于為什么?需要從原理開(kāi)始分析。高分辨像是相位襯度像,是所有參加成像的衍射束與透射束之間因相位差而形成的干涉圖像。普通TEM要么采用透射電子,要么采用散射電子。高分辨是兩者都用。用的電子類(lèi)別多,對樣品的要求就高。那么問(wèn)題來(lái)了:在高分辨像下,原子是暗的還是亮的呢?研究表明,當TEM的欠焦量最優(yōu)時(shí),HRTEM分辨率達到最高。這時(shí),對于薄晶體,原子一般呈現暗襯度,即原子是暗的。但實(shí)際使用時(shí),有的時(shí)候也可以是亮的(請高手指教)。

         

            STEM(HAADF - STEM):從成像角度來(lái)分析,其與前面兩者最大的區別是:TEMHRTEM的光照射范圍是面,而STEM是一點(diǎn)一點(diǎn)的掃射,然后再收集。一個(gè)不恰當的比喻是:一個(gè)是手電筒光源,一個(gè)是激光器光源。顯然激光器對結構的表征更加細致。前面已經(jīng)提及STEM也有明場(chǎng)和暗場(chǎng)之分。STEM常常和HAADF連用。HAADF是一種高角環(huán)狀暗場(chǎng)探測器。示意圖如圖7所示。

            HAADF的作用是收集高角盧瑟福散射電子。為什么要收集高角散射電子?因為其產(chǎn)生的是非相關(guān)高分辨像,可避免TEM和HRTEM中復雜的衍射襯度和相干成像,從而能夠直接反應原子的信息。什么時(shí)候用HAADF-STEM?最簡(jiǎn)單的回答是:當你發(fā)現TEM,HRTEM還是沒(méi)法滿(mǎn)足你的欲望的時(shí)候;當你需要看更精細的結構和更低濃度成分的時(shí)候;當你需要線(xiàn)掃描的時(shí)候,HAADF-STEM也是首選。例如,近年來(lái)很火的單原子催化,利用球差STEM才能夠很好的表征,發(fā)現這些單原子,如圖8。



        本文轉載自微信公眾號:研之成理

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