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        性能測試
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        常用的粒度測試方法及其優缺點
        來源:    更新時間:2013-05-26 23:36:47    瀏覽次數:
         
         
        粒度測試方法 優    點 缺    點
        篩分法 簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40μm的樣品 不能用于40μm以下的樣品,結果受人為因素和篩孔變形影響較大
        顯微鏡(圖像)法 簡單、直觀、可進行形貌分析,適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10:1)的樣品 無法分析分布范圍寬的樣品,無法分析小于1微米的樣品
         
        沉降法 操作簡便,儀器可以連續運行,價格低,準確性和重復性較好,測試范圍較大 測試時間較長,操作比較復雜
         
        庫爾特(電阻)法 操作簡便,可測顆??倲?,等效概念明確,速度快,準確性好 適合分布范圍較窄的樣品
         
        激光衍射/散射法 操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復性和準確性好,可進行在線測量和干法測量 結果受分布模型影響較大,儀器造價較高
         
        電鏡法 適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高 樣品少、代表性差、儀器價格昂貴
        超聲波法 可對高濃度漿料直接測量 分辨率較低
        透氣法 儀器價格低,不用對樣品進行分散,可測磁性材料粉體 只能得到平均粒度值,不能測粒度分布
         
         
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