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                            性能測試
							
                          
        
                        
        		
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                        常用的粒度測試方法及其優(yōu)缺點(diǎn)
                      
        
                      
        
                        來(lái)源：    更新時(shí)間：2013-05-26 23:36:47    瀏覽次數：
                      
        
                      
        
                        
        		
                      
        
                      
					  					  
        
                         
                      
        
                      
        
                         

        

	
        
	粒度測試方法
	優(yōu)    點(diǎn)
	缺    點(diǎn)
	
        
	
        
	篩分法
	簡(jiǎn)單、直觀(guān)、設備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品
	不能用于40μm以下的樣品，結果受人為因素和篩孔變形影響較大
	
        
	
        
	顯微鏡（圖像）法
	簡(jiǎn)單、直觀(guān)、可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小于10：1）的樣品
	無(wú)法分析分布范圍寬的樣品，無(wú)法分析小于1微米的樣品
        
	         		
	
        
	
        
	沉降法
	操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續運行，價(jià)格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大
	測試時(shí)間較長(cháng)，操作比較復雜
        
	         		
	
        
	
        
	庫爾特（電阻）法
	操作簡(jiǎn)便，可測顆?？倲?，等效概念明確，速度快，準確性好
	適合分布范圍較窄的樣品
        
	         		
	
        
	
        
	激光衍射/散射法
	操作簡(jiǎn)便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可進(jìn)行在線(xiàn)測量和干法測量
	結果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高
        
	         		
	
        
	
        
	電鏡法
	適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高
	樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴
	
        
	
        
	超聲波法
	可對高濃度漿料直接測量
	分辨率較低
	
        
	
        
	透氣法
	儀器價(jià)格低，不用對樣品進(jìn)行分散，可測磁性材料粉體
	只能得到平均粒度值，不能測粒度分布
        
	         		
	
        
        

        
        		
                      
        
					  
        

						
        		

					  
        
					  					  
        
					    
					  
        
					  
        
                         
                      
        
					  					  					  
        
                        
        
                          
        
                            
        
                              
        
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