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| 珀金埃爾默公司舉辦納米顆粒檢測技術研討會 |
| 來源：中國粉體技術網 更新時間：2015-05-04 10:48:02 瀏覽次數： |
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（中國粉體技術網/班建偉）近日，珀金埃爾默公司在位于張江的客戶體驗中心成功舉辦了Sp ICP-MS(Single Particle ICP-MS)納米顆粒檢測技術研討會，本次會議還邀請到了中國科學院南京土壤所的專家做了相關應用報告。
在會上，珀金埃爾默公司的市場部人員羅俊杰對Sp ICP-MS技術檢測納米顆粒的原理及其在環境、生物、食品和半導體等行業的應用做了詳細介紹，并對該技術方法的實驗過程做了簡介。中科院南京土壤所的李程程博士做了題為“微生物胞外聚合物對納米銀粒子的植物毒性影響”的報告，該研究中使用了Sp ICP-MS技術對植物及其培養液中的納米顆粒尺寸及濃度進行表征。講座報告后，珀金埃爾默公司的資深技術專家朱敏使用NexION 350 ICP-MS為大家演示了整個實驗操作過程。整個會議過程中，與會人員與技術專家們就該技術的操作和應用方面做了深入的探討，會議充斥著濃厚的學術氣息。
Sp ICP-MS在傳統ICP-MS檢測元素種類和濃度的基礎上，還可以同時進行納米顆粒的尺寸、粒徑分布和顆粒濃度的檢測。隨著PerkinElmer NexION 350 ICP-MS和全新的SyngistixTM軟件納米應用模塊的推出，該檢測技術進入了一個更為成熟的發展階段。NexION 350可以提供高達10萬個數據/秒的快速采集速度，可以采集到最真實納米顆粒信號，SyngistixTM中嵌入了專用的納米應用模塊，可實時觀測數據信號，快速獲得顆粒尺寸、粒徑分布、顆粒濃度和溶解的離子濃度等信息，無需任何手動計算，為Sp ICP-MS技術提供了最有利的軟件平臺。
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