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        科技發展
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        各種超細粉體粒度分析儀器應用特點比較
        來源:中國粉體技術網    更新時間:2014-08-13 10:38:47    瀏覽次數:
         
        1粒度測定方法
               (中國粉體技術網/遠志)粒度是粉體物粒的的重要特性之一,在粉碎工程的研究以及粉體產品的生產中,常常用到諸如物料的平均粒度、粒度組成和粒度分布等數據。這些數據就是通過各種粒度測定方法得到的。
        (1) 篩分分析方法
               最簡單的也是應用最早的粒度分析方法是篩分法。但是,由于現今的標準篩(如泰勒標準篩)最細一般只到400目(相當于38μm),因此,對于小于10μm的超細粉體來說,不可能用標準篩進行粒度分析和檢測。雖然新發展的電沉積篩網可以篩分小至5μm的粉體物料,但這種篩分技術由于篩分時間長和經常發生堵塞,很少在分析中使用。
               篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進行粒度分級。對于粒度小于100
        mm而大于0.038mm的松散物料,一般用篩分法測定其粒度組成和粒度分布。
        (2) 其它粒度分析方法
                當今用于超細粉體粒度檢測的主要方法的沉降法(包括重力沉降和離心沉降)、激光粒度分析儀、顯微鏡、庫爾特計數器以及用于測定比表面積的透過法和BET法。表1.31所列為這些方法的基本原理、測定范圍及其主要特點。

        1.31  超細粉休物料粒度測定方法
         
        儀器名稱 基本原理 測定范圍
        μm
        特點



        移液管法 分散在沉降介質中的樣品顆粒,其沉降速度是顆粒大小的函數,通過測定分散體因顆粒沉降而發生的濃度變化,測定顆粒大小和粒度分布 1~100 儀器便宜,方法簡單,安德遜液管法應用很廣;缺點是測定時間長,分析,計算的工作量較大
        比重計法 利用比重計在一定位置所示懸濁液比重隨時間的變化沒測定粒度分布 1~100 儀器便宜,方法簡單,但測定過程工作量較大
        濁定江 利用光過法或X射線透過法測定因分散體濃度就引起的濁度變化,測定樣品的粒度和粒度分布 0.1~100 自動測定,數據不而處理便可得到分布曲線,可用于在線粒度分析
        天平法 通過測定已沉降下來的顆粒的累積重量測定粒度和粒度分布 0.1~150 自動測定和自動記錄,但儀器較貴,測定小顆粒誤差較大



          在離心力場中,顆粒沉降也服從斯托克斯定律,利用圓般離心機使顆粒沉降,測定分散體的濃度變化;或者使樣品在空氣介質離心力場中分級,從而得到粒度大小和粒度分布 0.01~30 測定速度快、是超細粉體顆粒的基本粒度測定方法之一,可得到顆粒大小和粒度分布,是較先進的測定方法之一,用途廣泛
        庫爾特計數器   懸浮在電解液中的顆粒通過一小孔時,由于排出了一部分電解液而使液體電阻發生變化,迷種變化是顆粒大小的函數,電子儀器自動記錄下粒度分豈有此理 0.4~200 速度快,精度高,統計性好,完全自動化,近年來應用較廣,可得到顆粒粒度和粒度分布
        激光粒度分析儀   根據夫瑯和費衍射光用射原理測定顆粒粒度及粒度分布 0.05~3000 自動化程度高、操作簡單、測定速度快、重復性好,可用于在線粒度分析
         
        顯微鏡
         
         
        光學顯微鏡 把樣品分散在一定的分散液中制取樣片,測顆粒影像,將所測顆粒按大小分級,便可求出以顆粒個數為其準的粒度分布 1~100 直觀性好,可觀察顆粒形狀,但分析的準確性受操作人員主觀因素影響程度大
        掃描和透射電子顯微鏡 與光學顯微鏡方法相似,用電子束代替光源,用磁鐵代替玻璃鏡。顆粒用顯微鏡照片顯示出來 0.001~100 測定亞微米顆粒襪度分布和顆粒開頭的基本方法,廣泛用于科學研究,儀器較貴,需專人操作
        比表面積測定儀 透過法 把樣品壓實,通過測定空氣浪過樣品時的阻力,用柯境尼-卡曼理論計算樣品的比表面積,引入形狀系數,可換算成平均粒徑 0.01~100 儀器簡單,測定迅速,再現性好,但不能測定粒度分布數據。另外,測定時樣品一定要壓實
        BET法 根據BET吸附方程式,用測定的氣體吸附量求比表面積,引入形狀系數,可換算成平均粒徑 0.003~3 這是常用的比表面積測定方法,再現性好,精度較高,但數據處理較復雜
               由于各種粒度測定方法的物理基礎不同,同一批樣品用不同的測定方法或測定儀器所得到的粒度的物理意義及粒度大小的粒度分布也不盡相同。用顯微鏡、庫爾特計數器、激光粒度分析儀等得到的是統計徑;沉降法得到的是等效徑(即等于具有相同沉降末速的球體的直徑);透過法和吸附法得到的是比表面積直徑?,F代的各種激光粒度分析儀、庫爾特計數器、圖像分析儀以及基于斯托克斯原理的各種沉降式粒度分析儀不僅可以測定粉體的粒度分布,而且可以自動進行數據處理并打印出粒度分布表以及d50、d25、d75、d90、d97等特征數據,還可繪制直方圖、頻率分布圖以及累積粒度特性曲線等。
               在選擇測定方法時,需要綜合考慮物料的粒度分布范圍,測定的目的,要求的精度及特征粒度分布數據以及物料的性質等因素。
               在超細粉體的粒度測定中,樣品的預先分散對測定結果有重大影響,無論用什么方法或儀器進行測定,只有在顆粒處于良好分散的前提下,測定結果才可能準確。

        1.4.2.2 粒度測定儀
               國內外制造分析儀的廠家很多,表1.32是國內外部分廠家及科研單位制造的各種型號粒度測定儀。


        表1.32  部分粒度測定儀
        儀器名稱 測定范圍(μm 生產廠家
        GXL-20A型圓盤離心超細粒度分布儀
        GXL-202型離心沉降式粒度分布儀
        GXS-203A型光定點掃描式粒度分布儀
        GSL-101型激光顆粒分布測定儀
        GSL-101A型激光顆粒分布測定儀
        0.01~60
        0.1~150
        0.01~60
        1.0~200
        1.9~125
        0.1~400
         
        丹東儀表研究所
        TB-301離心沉降式粒度分布儀
        BT-930B激光粒度分布儀
        0.1~150
        0.12~560
        丹東市百特測試設備服務中心
        TZC-2沉降粒度測定儀
        LKY-1離心沉降粒度測定儀
        LKY-2離心沉降粒度測定儀
        1.00~100
        0.01~30
        0.01~30
        上海天平儀器廠
        KF-4微粒計數器
        KCT-2型顆粒沉降天平
        2~25
        1~150
        湖南儀器儀表總廠天平儀器廠
        JL-1155激光粒度分布測試儀 1.9~155 四川輕工業研究設計院
        JL-900便攜式激光粒度分析儀 0.6~120 山東建材學院
        LS-601激光粒度分析儀
        LS-302激光粒度分析儀
        DP-01P激光粒度分析儀
        LS-POP(1)型激光粒度分析儀
        LS-POP(Ⅱ)激光粒度分析儀
        0.1~200
        0.10~120
        1.0~1200
        0.2~100
        0.4~200
         
        歐美克儀器有限公司
        NSKC-1型光透射式粒度分析儀 0.01~300
         
        南京化工學院硅酸鹽工程研究所
        FAM激光測量儀
        TSM型全散射式細微顆粒測量儀
        0.5~1000
        0.03~8
         
        華東工業大學
        顆粒技術測量室
        E型激光粒度分析儀
        Microg Plus激光粒度分布儀
        X型激光粒度分析儀
        S型激光粒主分析儀
        0.10~600
        0.05~550
        0.10~2000
        0.05~3500
        英國Malvem
        LMS-24激光衍射/散射式粒度分析儀
        LMS-800在線激光粒度分析儀
        0.1~700
         
        日清公司
        MPS-Z光透過式離心沉降粒度分析儀 0.1~500
         
        LS系列全自動激光粒度分析儀(LS100Q、LS200、LS230)
        MultisizerⅡ全自動(庫爾)粒度分析儀
        ZL系列全逢動(庫爾特)粒度分析儀
        DELSA440SX Zeta電勢分布粒度分布儀
        0.04~2000
        0.4~1200
        1~120
        0.003~3
         
        美國庫爾特電子儀器
        (香港)有限公司
        BI-XDC無機材料粒度儀
        BI-DCP離心沉降式粒度儀
        BI-90PLUS亞微米顆粒測量儀
        0.10~100
        0.01~45
        0.002~5
         
        美國布魯海文儀器公司
         
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