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        技術進展
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        熔融制樣-X射線熒光光譜法測定重晶石中的主要組分
        來源:光譜實驗室    更新時間:2013-06-22 13:10:10    瀏覽次數:
         
                華南理工大學曾小平等采用熔融片制樣法,X射線熒光光譜儀(XRF)同時測定防輻射用重晶石中氧化鋇和二氧化硅等主次組分的含量,用基本參數法校正基體效應,并進行了方法的精密度和準確度試驗,各組分相對標準偏差RSD(n=10)均小于6.0%。用標準物質進行驗證,測量值與之基本一致。


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