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葉臘石微結構及其晶體結構缺陷的高分辨透射電鏡分析

來(lái)源：礦物學(xué)報更新時(shí)間：2013-06-22 10:38:38 瀏覽次數：

浙江工業(yè)大學(xué)嚴俊等采用場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)、高分辨透射電鏡(HRTEM)結合選區電子衍射(SAED)、X射線(xiàn)粉晶衍射(XRD)及X射線(xiàn)熒光光譜(XRF)等對浙江青田葉臘石的微結構特征進(jìn)行較系統的研究。結果表明:①粉晶X射線(xiàn)衍射證實(shí)青田葉臘石具有典型的單斜晶系特征,該結論與葉臘石粉體選區電子衍射結果吻合,且其伴生礦為石英。②葉臘石微晶體呈"復式板片"構型,且"復式"板片中薄片厚度約為8±2 nm。③在高能電子束輻照下,葉臘石礦物顆粒形貌及晶格結構發(fā)生明顯的改變,且由此產(chǎn)生晶格膨脹,并最終形成非晶態(tài)。

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